Dans ce première épisode de “Mac Panel Test Connect”, Matt Greenwood de Mac Panel Company aborde le thème de la gestion de l’obsolescence, un sujet crucial dans le domaine des connecteurs de test haute performance et des applications de test. Il est rejoint par Luke McBee d’Orbis et Dave Wilson de Mac Panel, deux experts en gestion de l’obsolescence.
Luke McBee se présente d’abord, mentionnant son expérience dans l’industrie, y compris dans les secteurs de la défense, de l’aérospatiale, du médical et du commercial. Dave Wilson partage ensuite son expérience de 20 ans chez Mac Panel, incluant ses débuts au Royaume-Uni et son travail actuel aux États-Unis, en Caroline du Nord.
Le sujet principal de l’épisode est la gestion de l’obsolescence, notamment la manière dont les ingénieurs de test peuvent gérer les risques liés à l’obsolescence des composants matériels et logiciels dans les systèmes de test. Ils discutent des défis posés par l’obsolescence, tant du point de vue matériel que logiciel, et de l’importance de la planification proactive pour y faire face. Un aspect clé abordé est la tendance de l’industrie à réagir plutôt qu’à anticiper l’obsolescence, souvent avec des solutions de dernier recours comme l’achat de pièces de rechange coûteuses ou la maintenance d’équipements obsolètes.
Ils mettent en évidence l’importance d’une approche modulaire dans la conception des systèmes de test pour faciliter les mises à niveau et gérer l’obsolescence de manière plus efficace. Cette approche permet de remplacer ou de mettre à jour facilement les composants spécifiques sans avoir à refaire tout le système, offrant ainsi une solution à long terme plus durable.
Enfin, l’épisode se termine par l’invitation aux auditeurs à visiter le site web de Mac Panel pour télécharger une étude de cas gratuite et un document sur la gestion de l’obsolescence, offrant des conseils et des stratégies pour aborder ces défis.
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