Dans cet épisode de « MAC Panel Test Connect », Matt Greenwood aborde la modularité dans les systèmes de test, avec la participation de Jim Campbell de Viewpoint et Hayden Nielsen de National Instruments (NI). Jim, fort de 26 ans d’expérience chez Viewpoint, discute de la conception et de la construction de systèmes de test personnalisés, notamment pour les systèmes d’imagerie électro-optique. Hayden, de son côté, représente NI et parle des solutions pour les tests électro-optiques et infrarouges, un domaine connaissant une évolution technologique significative.
L’épisode met en lumière l’importance de la modularité dans les systèmes de test, permettant une optimisation pour des applications spécifiques tout en bénéficiant d’une architecture ouverte grâce aux standards comme PXI. La modularité offre des avantages significatifs en termes de réutilisation, d’économies de coût, et de rapidité de mise sur le marché, en adaptant les systèmes de test aux besoins spécifiques des clients tout en conservant un cœur de tester commun.
Des discussions techniques approfondies expliquent comment la modularité permet une plus grande flexibilité, une maintenance simplifiée, et une réduction des coûts et de l’espace nécessaire. L’épisode explore également les défis actuels dans le domaine des tests d’imagerie électro-optique et infrarouge, soulignant la nécessité d’innover constamment pour répondre aux exigences croissantes en matière de résolution, de taux de trame, et de gestion des données.
En conclusion, l’épisode souligne l’importance d’une approche collaborative et modulaire dans le développement de systèmes de test, offrant une solution complète et optimisée pour les défis technologiques actuels et futurs. Les partenariats entre les experts de l’industrie, comme ceux présentés entre MAC Panel, NI, et Viewpoint, sont essentiels pour fournir des solutions innovantes et efficaces dans le monde des tests.
Les produits Mac Panel sont disponibles chez Cotelec.