Semiconductor Testing
Une qualité optimale pour les exigences les plus élevées.
Cartes de test haute performance et solutions de contact avancées pour la connexion fiable des wafers et le test de puces dans l’industrie des semi-conducteurs.
Des cartes de test haute performance pour des environnements critiques
Dans l’industrie des semi-conducteurs, chaque micromètre compte. La connexion fiable des wafers et des puces nécessite des cartes de test capables d’assurer un contact stable, précis et reproductible dans des conditions extrêmes. Les solutions proposées couvrent une plage d’application étendue de -55 °C à 180 °C, répondant aux contraintes thermiques les plus sévères rencontrées en production et en qualification.
Les cartes de test haute performance sont conçues pour fonctionner à des fréquences pouvant atteindre 100 GHz, tout en garantissant une intégrité du signal optimale. La maintenance et la réparation sont simplifiées, permettant d’optimiser la durée de fonctionnement et de réduire les interruptions de production. Contactez Cotelec pour avoir des précisions sur les différences pointes de test.
Des solutions innovantes pour une qualité maximale
Grâce à des technologies de test avancées et à des développements sur mesure, les solutions couvrent une large variété d’applications dans les secteurs automobile, des énergies renouvelables, de l’électronique industrielle et des communications. L’objectif est de garantir une qualité optimale à chaque étape du processus de fabrication.
Test de wafers : stabilité et précision
La technologie Vertical Buckling Beam assure un contact stable sur différents matériaux de pad, garantissant une répétabilité exceptionnelle. Cette stabilité est déterminante pour maximiser le rendement des wafers et réduire les pertes liées aux défauts de contact.
WLCSP et miniaturisation avancée
Pour les boîtiers WLCSP, une vaste gamme de pointes de test permet d’assurer un contact fiable sur les bosses, même dans des configurations à pas extrêmement réduit. La précision mécanique et la maîtrise des tolérances contribuent directement à la qualité des résultats.
Test radiofréquence jusqu’à 100 GHz
Les cartes de test haute performance permettent d’effectuer des tests radiofréquence sur une large plage de fréquences, jusqu’à 100 GHz. Cette capacité est essentielle pour les applications de communication et les technologies avancées à haute vitesse.
Test à fort courant et matériaux avancés
Les solutions de contact pour tests à haut courant répondent aux exigences spécifiques des applications SiC et GaN. La stabilité thermique et la faible résistance garantissent des performances constantes, même en présence de fortes intensités.
Test final back-end
Une large gamme de pointes de test est disponible pour le test final des puces semi-conductrices. Intégrées dans des sockets spécialisés, elles permettent de soumettre les composants à différents scénarios de validation, assurant une précision extrême dans les plus petites dimensions.
Une puissance concentrée pour de nombreux secteurs
Axées sur la technologie, ces solutions s’adaptent aux exigences spécifiques de chaque secteur industriel. La combinaison d’une plage thermique étendue, de performances haute fréquence et de capacités haute intensité positionne ces technologies comme un levier stratégique pour la fiabilité des semi-conducteurs modernes.
Sélectionnez des cartes et solutions de contact adaptées aux exigences les plus élevées.
Pour analyser vos contraintes thermiques, fréquentielles ou d’intensité, contactez les équipes techniques via la page dédiée.
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