Pacta Industry

Solutions de test pour les applications les plus exigeantes

Pointes de précision

Technologie avancée

Test haute intensité

Pointes à pas ultra-fin pour tester les circuits intégrés et micro-électroniques à haute densité, avec une précision jusqu’à 30 µm de pas.

Pour les courants élevés

Pointes spécialisées capables de supporter des courants allant jusqu’à 30 A pour les applications de test de puissance.

Haute température

Conçues pour résister à des températures extrêmes, de – 55 °C à + 200 °C, pour les secteurs automobile et aérospatial.

Force de contact minimal

Pointes de précision nécessitant une force de contact minimale (à partir de 10 mN) pour préserver les composants délicats lors des tests..

Longue durée

Construction robuste offrant plus de 1 000 000 d’actions sans usure significative, pour une performance fiable en production..

Solutions personnalisées

Design sur-mesure pour répondre aux exigences spécifiques, géométries et matériaux adaptés.

Portefeuille Complet de Pointes

Standard Series Probes
Special Series Probes

Séries Standard & Spéciale

Feinmetall propose une gamme complète de pointes standard pour les applications courantes, ainsi que des séries spéciales conçues pour les environnements exigeants (semi-conducteurs, automobile, médical).

  • Série standard pour une solution de test économique
  • Série spéciale pour conditions difficiles
  • Configurations sur-mesure disponibles
Standard Probes

Séries Standard

Pointes fiables et économiques pour tests généraux, avec divers styles d’embout et forces de ressort.

Special Probes

Séries spéciales

Conçues pour des applications spécifiques nécessitant des géométries ou matériaux particuliers.

High Current Probes

Courant élevé

Adaptées aux niveaux de courant élevés tout en conservant une faible résistance de contact et un minimum de chaleur.

Fine Pitch Probes

Fine Pitch Series

Pointes ultra-miniatures pour tester les interconnexions à haute densité et les technologies d’emballage avancées.

Applications Industrielles

Test de semi-conducteurs

Probing de wafers, tests de boîtiers, packaging avancé.

Wafer Probing Packaged ICs Advanced Packaging

Électronique Automobile

Tests d’ECU, capteurs, électronique de puissance en conditions difficiles.

ECU Testing Power Electronics Harsh Environments

Dispositifs Médicaux

Tests de dispositifs implantables, équipements de diagnostic, fiabilité absolue.

Implantables Diagnostic Equipment High Reliability

Spécifications techniques

Standard Specifications

Pitch Range 30µm - 5mm
Current Range 10mA - 30A
Temperature Range -55°C to +200°C
Contact Force 10mN - 5N

Material Options

Plunger Materials

BeCu, CuCrZr, PdNi, Steel

Spring Materials

BeCu, Steel, CuNiSi

Tip Materials

OsRu, W, PdNi, Steel

Coatings

Au, Ni, Ag, PdNi

Prêt à optimiser vos capacités de test ?

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